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DT测试过程中 TEMS手机在扫频的工作模式下 下面()设置的情况下 被扫频的“频率集合”是动态变化的。


DT测试过程中,TEMS手机在扫频的工作模式下,下面()设置的情况下,被扫频的“频率集合”是动态变化的。

A.扫频所有频道

B.扫频指定半径内的频率集

C.扫频指定手机的邻频

D.扫频指定的频率集合

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