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用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时出现干涉条纹或干涉环其干涉原理是()。

用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（)。

A、球面干涉

B、等倾干涉

C、等厚干涉

参考答案

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