低应变测试盲区是由()因素引起的。

低应变测试盲区是由（)因素引起的。

A、传感器频响不够

B、振源或入射波波长过大导致的分辨率降低

C、桩身阻尼衰减和桩周土的作用引起的测试深度降低

D、局部应力集中现象和应力波的三维效应导致的浅部测试不准确