-
紫外A.波长200~400 NM B.光谱性质为发射光谱 C.可用于无效或低效晶型杂质检查 D.波长400—760
-
可见光A.波长200~400 NM B.光谱性质为发射光谱 C.可用于无效或低效晶型杂质检查 D.波长400—76
-
红外A.波长200~400 NM B.光谱性质为发射光谱 C.可用于无效或低效晶型杂质检查 D.波长400—760
-
荧光A.波长200~400 NM B.光谱性质为发射光谱 C.可用于无效或低效晶型杂质检查 D.波长400—760
-
药物中无效或低效晶型的检查A.GCB.HPLCC.旋光度法D.PCE.IR
-
无效或低效的晶型杂质检查的检查方法是A.紫外-可见分光光度法 B.红外分光光度法C. TLC 法D
-
药物中无效或低效晶型的检査方法是 A.紫外-可见分光光度法B.红外分光光度法C.直接电位法D. H