测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（)。A、整体受潮;B、整体劣化;C、小体积试品的局

测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是()。

A、整体受潮;

B、整体劣化;

C、小体积试品的局部缺陷;

D、大体积试品的局部缺陷。